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非制冷型中紅外顯微系統 LUXET Thermo 50
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一款先進的非破壞性電性故障定位設備

它可以直接快速地透過IC正面或背面來找出缺陷所在位置。它利用高靈敏度的中紅外探測器在IC通電情況下探測缺陷位置熱輻射的分布，以此定位失效點。

除了IC與Package以外，還可應用于大面積的產品，如PCB、面板等。



LUXET Thermo 50非制冷型中紅外顯微系統特點：

? 非制冷高性價比
? 自主研發
? 鎖相功能，大幅提高信噪比
? 熱靈敏度<1mK
? 核心部件輕便易攜帶
? 鏡頭可定制

相關案例：

失效器件一


IC影像+Thermal Emission

振幅圖


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