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制冷型中紅外顯微系統 LUXET Thermo 100
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先進的非破壞性電性故障定位設備


可以直接快速地透過IC正面或背面來找出缺陷所在位置。它利用高靈敏度的中紅外探測器在IC通電情況下探測缺陷位置熱輻射的分布，以此定位失效點。


除了IC與Package以外，鎖相紅外顯微鏡還可應用于大面積的產品，如PCB、面板等。



LUXET Thermo 100制冷型中紅外顯微系統特色：


? 具有市場上*高靈敏度的熱源偵測系統
? 鎖相功能，大幅提高信噪比
? 熱靈敏度0.1mK
? 快速交付

相關案例：

失效器件一




IC影像+Thermal Emission
（高閾值熱點顯示）
IC影像+Thermal Emission
（低閾值）
振幅圖
失效器件二

IC影像+Thermal Emission

振幅圖



道具 高潮 颤抖 红肿 h,蜜臀av一区二区,欧美熟妇高清videossex0ts,把腿张开ji巴cao死你 <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链>